Фильтр
По свойству "Популярные" (возрастание)
Измерение толщины медного покрытия или металлического покрытия верхнего слоя на печатной плате в соответствии со стандартом EN14571 с помощью метода микросопротивления.
Тип пробы: печатная плата.
Области применения:
- ENIG, ENEPIG, HDI
- Электронная печатная плата
- Анализ точного содержания при измерении толщины покрытия
Преимущества:
- Измерение толщины многослойной пленки (до 5 слоев)
- Удобное управление предметным столом
- Возможность многоточечного измерения
Арт. 1476
Тип пробы: многослойная, широка печатная плата.
Области применения:
- Проверка продукции на соответствие международным экологическим нормам (соответствие RoHS, WEEE, ELV)
- Опасные материалы (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S)
Оборудование для проверки - Анализ покрытия автомобильных деталей, электронная плата (PCB), например, конденсатора
- Анализ однослойного, многослойного, легированного покрытия
- Толщина с соотношением состава может быть измерена при нанесении легированного покрытия
Преимущества:
- Измерение толщины многослойной пленки (до 5 слоев)
- Удобное управление предметным столом
- Возможность многоточечного измерения
- Проверка на соответствие RoHS (опция)
- Дистанционная поддержка в режиме онлайн
Тип пробы: твердая / жидкая / порошок, многослойная
Области применения:
- Специальное измерение толщины покрытия, ENEPIG, Pd-Ni, Rh и т.п.
- Анализ покрытия автомобильных деталей, электронная плата (PCB), например, конденсатора
- Анализ однослойного, многослойного, легированного покрытия
- Толщина с соотношением состава может быть измерена при нанесении легированного покрытия
Преимущества:
- Микрофокусная точка измерения (<70 мкм) с использованием капиллярной оптики
- Измерение толщины многослойной пленки (до 5 слоев)
- Удобное управление предметным столом
- Возможность многоточечного измерения
- Дистанционная поддержка в режиме онлайн
Арт. 3771
Тип пробы: твердая / жидкая / порошок, многослойная.
Области применения:
- Проверка продукции на соответствие международным экологическим нормам (соответствие RoHS, WEEE, ELV)
- Опасные материалы (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S)
Оборудование для проверки - Анализ покрытия автомобильных деталей, Электронная плата (PCB), например, конденсатора
- Анализ однослойного, многослойного, легированного покрытия
- Толщина с соотношением состава может быть измерена при нанесении легированного покрытия
Преимущества:
- Измерение толщины многослойной пленки (до 5 слоев)
- Удобное управление предметным столом
- Возможность многоточечного измерения
- Проверка на соответствие RoHS (опция)
- Дистанционная поддержка в режиме онлайн
Арт. 8284
Тип пробы: твердая / жидкая / порошок.
Области применения:
- Проверка продукции на соответствие международным экологическим нормам (соответствие RoHS, WEEE, ELV)
- Опасные материалы (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S)
- Оборудование для проверки
- Проверки наличия опасных веществ, содержащихся в аксессуарах для игрушек, драгоценных металлах.
- Переработка, анализ смазочного масла и загрязнителей окружающей среды.
- Исследования и обучение компонентному анализу.
- Электричество, электроника, автомобили, драгоценные металлы, литье под давлением, упаковка и т. д
Преимущества:
- Предварительная обработка пробы не требуется при неразрушающем контроле
- Одновременный многоэлементный анализ (твердая, жидкая проба, порошок)
- Высокая чувствительность и точность
- Дистанционная поддержка в режиме онлайн
- Опция: 10-канал., 12-канал с автоматической заменой пробы
Современная технология рентгенофлуоресцентного анализа для точного контроля качества покрытий.
SDD Детектор высокого разрешения
Четкие пики элементов, устраняющие необходимость использования вторичных фильтров.
Минимальный дрейф положения пика для высокой стабильности с течением времени.
Калибровка спектра– реже
Анализ тонких пленок Ag, Sn по L линии
Более высокий уровень чувствительности и Эффективность для приложений Ag и Sn, чем анализ по К линии
Дружественный интерфейс
Эргономичная конструкция
Кнопки управления на передней панели,небольшой вес, компактный размер, подключение с ПК– один USB кабель
Передовая технология измерения тонких пленок
Новейший РФ анализатор с SDD детектором высокого разрешения для макси-мальной точности и минимальной погрешности измерения за короткий период времени
* Преимущество μ-оптики Bowman
Построение 3D модели покрытия
Обеспечение однородности покрытия
Режущий инструмент
|
Корпуса, высокоточные механические детали |
Выводные рамки |
Декоративные покрытия |
Метизы |
Фитинги, соединители, механические пары |
Выводы, электрокомпоненты |
Печатные платы |
Крупногабаритные детали
|
Полупроводники, устройства памяти
|
|
|
Анализаторы Bowman широко применяются в различных отраслях, в том числе:
Печатные платы
|
Выводы и контакты
|
Метизы
|
Режущий инструмент
|
Трубопроводная арматура и трубы
|
Телекоммуникация и хранение данных
|
Ювелирная промышленность
|
Химический состав
|
Анализ растворов
|
Автомобильная промышленность
|
И МНОГОЕ ДРУГОЕ |
Непревзойденный диапазон измерения толщины
Прецизионный анализ в диапазоне от Алюминия до Урана (Al 13 до U 92)
Умная инженерия и новейший дизайн в области рентгенофлуоресцентных анализаторов
Замкнутая геометрия — увеличивает точность и эффективность анализа — образец в 3 раза ближе к детектору, чем у других производителей для непревзойденной точности и эффективности анализа
SDD Детектор высокого разрешения
Четкие пики элементов, устраняющие необходимость использования вторичных фильтров.
Минимальный дрейф положения пика для высокой стабильности с течением времени.
Калибровка спектра– реже
Анализ тонких пленок Ag, Sn по L линии
Более высокий уровень чувствительности и Эффективность для приложений Ag и Sn, чем анализ по К линии
Различные варианты измерительной камеры
|
Стандартный фиксированный столик |
Расширенный программируемый XY Base |
Моторизованная / программируемый XY Base |
Максимальное перемещение XY Base |
 |
 |
 |
|
Дружественный интерфейс
- Предназначен для максимальной гибкости и Минимизации ошибок пользователя
- Программное обеспечение Xralizer на русском языке
- Интуитивно понятный графический интерфейс, управляемый значками
- Мощный качественный анализ
- Настраиваемые сочетания клавиш для быстрого проведения анализа
- Гибкий экспорт и вывод данных
- Мощный генератор отчетов
|
Пользовательский отчет со статистикой и автоматическая вставка изображения образца в отчет |
Простой вывод данных |
Приложение для создания измерительных программ |
 |
|
 |
Эргономичная конструкция
Кнопки управления на передней панели,небольшой вес, компактный размер, подключение с ПК– один USB кабель
Дизайн
- Удобен в обслуживании
- Компактная и модульная конструкция всех основных компонентов упрощает обслуживание
- Максимальное время безотказной работы.
| Трубка |
 |
| HVPS | |
| Коллиматор | |
| Фильтры | |
| Видео камера | |
|
Защита Z перемещений |
|
|
Пульт управления |
|
| Детектор |
Передовая технология измерения тонких пленок
> μ-точечная поли капиллярная оптика*
Новейший РФ анализатор с SDD детектором высокого разрешения для макси-мальной точности и минимальной погрешности измерения за короткий период времени- Поли капиллярная оптика позволяет фокусиро-вать рентгеновский луч в пятно, размером 15 мкм
- Интенсивность в 1000 раз больше, чем в класси-ческом оптике с коллиматорами
- Исследование покрытий ENIG, ENEPIG, химиче-ски осажденного никеля, в том числе для кон-троля содержания P в покрытии
|
Au, мкм |
Pd, мкм |
Ni, мкм |
NiP, мкм |
%P |
|
|
Толщина |
0,0427 |
0,08 |
3,72 |
10,2015 |
10,17 |
|
Станд. отклонение |
0,00045 |
0,0009 |
0,00985 |
0,1089 |
0,29 |
|
Размах |
0,0015 |
0,003 |
0,0395 |
0,3863 |
0,99 |
|
% Sr |
1,053 |
1,121 |
0,265 |
1,067 |
2,85 |
.jpg "zj5Q7bJjW48 (1).jpg")
* Преимущество μ-оптики Bowman
Построение 3D модели покрытия