USB 3.0 интерфейс обеспечивает самую быструю передачу данных на ПК. Используется с программным обеспечением Axalit для осуществления попиксельной сшивки.
Внесен в реестр средств измерений и является измерительным прибором
Комплекс, состоящий из металло-графического инвертированного микроскопа OMOS M-1000 или M-500, цветной цифровой CCD камеры, а также программного обеспечения Axalit-Soft с автоматическими модулями, позволяющими оценить параметры микроструктуры материалов по различным стандартам, в том числе ГОСТ.
Комплекс позволяет получать изображения микроструктуры исследуемых образцов, используя различные методы контрастирования, обрабатывать изображения, сохранять и создавать отчеты с использованием созданных изображений.
Для увеличения точности расчета также имеется модуль для попиксельной сшивки изображения, для того, чтобы увеличить площадь исследования.
Программное обеспечение Axalit-Soft
Модульная структура программного обеспечения AXALIT Soft позволяет проводить анализ изображения для различных секторов рынка:
металлургической, машиностроительной, горно-добывающей, химической, атомной промышленности, микроэлектроники и в различные НИИ программно-аппаратные комплексы исследования микроструктуры изучаемых образцов на соответствие различным стандартам (ГОСТ, ISO, ASTM, DIN, внутренним стандартам предприятия и др.).
Программное обеспечение разделяется:
- Axalit Base. Базовая версия программного комплекса
- Axalit Castiron. Модуль контроля образцов из чугуна
- Axalit Biomedicine. Модуль по работе с биомедициной
- Axalit Steel. Модуль контроля образцов сталей и сплавов
- Axalit Microchips. Модуль контроля чипов в микроэлектронике
Модульная структура программного обеспечения включает в себя такие методики металлографического анализа для сталей, цветных металлов и сплавов, как:
- Величина зерна в сталях и сплавах ГОСТ 5639, ASTM E112
- Неметаллические включения в сталях и сплавах ГОСТ 1778 (методы Ш и К)
- ГОСТ 5640, ГОСТ 11878, ГОСТ 1763, ГОСТ 5950
- Анализ графита в чугуне ГОСТ 3443
- Относительное содержание феррита и перлита ГОСТ 8233
- Измерение длин игл мартенсита ГОСТ 8233
- Анализ межкристаллитной коррозии
- Методы сравнения с эталонами стандартов и т.д.\
При этом возможно создание уникальной методики анализа по техническому заданию заказчика.
Петрография
Программное обеспечение позволяет проводить автоматизированный анализ горных пород, руды, продуктов обогащения и переработки, цементного клинкера, керна. ПО позволяет делать автоматические количественные измерения минерального состава, гранулометрического состава, степени раскрытия компонентов руды и рудных концентратов, определять (классифицировать) основные компоненты с выделением перечня классов (кварц, шпат, мусковит, биотит, обломки пород, карбонатный цемент и т. д.).
Микроэлетроника
Применяется для контроля и метрологии полупроводниковых пластин, анализа и морфологии поверхности, позволяет проводить геометрические измерения, создавать панорамные изображение с повышенной глубиной фокуса, нанесение аннотаций.
Биомедицина
Программное обеспечение позволяет автоматизировать гистологические, цитологические, дерматовенерологические исследования.
Модульная структура программного обеспечения AXALIT Soft позволяет позволяет проводить анализ изображения для разлиных секторов рынка: металлургической, машиностроительной, горно-добывающей, химической, атомной промышленности, микроэлектроники и в различные НИИ программно-аппаратные комплексы исследования микроструктуры изучаемых образцов на соответствие различным стандартам (ГОСТ, ISO, ASTM, DIN, внутренним стандартам предприятия и др.)
Программное обеспечение разделяется:
Axalit Base - Базовая версия программного комплекса
Axalit Castiron - Модуль контроля образцов из чугуна
Axalit Biomedicine - Модуль по работе с биомедициной
Axalit Steel - Модуль контроля образцов сталей и сплавов
Axalit Microchips - Модуль контроля чипов в микроэлектронике
Модульная структура программного обеспечения включает в себя такие методики металлографического анализа для сталей, цветных металлов и сплавов, как:
- Величина зерна в сталях и сплавах ГОСТ 5639, ASTM E112;
- Неметаллические включения в сталях и сплавах ГОСТ 1778 (методы Ш и К);
- Анализ графита в чугуне ГОСТ 3443;
- Относительное содержание феррита и перлита ГОСТ 8233;
- Измерение длин игл мартенсита ГОСТ 8233;
- Анализ межкристаллитной коррозии;
- Методы сравнения с эталонами стандартов и т.д.
При этом возможно создание уникальной методики анализа по техническому заданию заказчика.
Одно из наилучших предложений в индустрии по соотношению цена/качество. Гибкая платформа позволяет подобрать решение под практически любой бюджет.
Металлографический комплекс состоит из трех программно-аппаратных компонентов: микроскоп, камера и программное обеспечение. Можно гибко варьировать компоненты для получения нужного набора функций и цены.
Обратитесь к нашему специалисту для получения более подробной информации или консультации по выбору компонентов системы.
Металлографический комплекс внесен в реестр средств измерений и имеет свидетельство об утверждении типа средств измерений RU.C.27.005.А №69794. Наименование: Система анализа микроструктуры объектов AXALIT. Регистрационный номер: 71098-18
- Уровень шумов уменьшен до уровня 1/20 от существующих методов
- Достигает уровня производительности для вакуумируемого SPM при работе в воздухе и жидкостях! Прибор впервые позволяет наблюдать слои гидрации и сольватации на границе раздела твердой и жидкой фаз
Зондовый микроскоп сканирует поверхность образца кантилевером, за счет чего возможно получение трехмерного изображения поверхности с высоким разрешением. Нанометровые участки твердых образцов и пленок можно наблюдать как на воздухе, так и в жидкости. Кроме того, с помощью кантилевера возможно исследование электрических и иных свойств, а также построение изображений слоистых структур и определение твердости. Поэтому можно сказать, что область применения микроскопа SPM-9700, как основного инструмента для нанотехнологий, чрезвычайно широка.
Объекты исследования (возможен анализ без пробоподготовки):
- металлы
- полупроводники
- керамика
- макромолекулы
- биологические объекты
- Измерения в атмосфере воздуха с высоким разрешением;
- прямое исследование непроводящих материалов;
- высокоточное измерение высоты объектов;
- исследование физических свойств объекта в точке;
- модернизация до модели WET-SPM с камерой для контроля атмосферных условий;
- контроль состава атмосферы (наполнение необходимым газом камеры WET-SPM);
- контроль влажности; температурный контроль.
SEM2000 — это базовый и универсальный аналитический сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом.
Понятный и простой интерфейс
Функции просты и удобны в эксплуатации. Даже новички могут быстро начать работу после непродолжительного обучения.
Расширенные функции автоматизации
Автоматическая контрастность, яркость, автофокус и автоматическая дисперсия изображения настраиваются одним щелчком мыши.
Расширенные функции измерения
Функции управления изображениями, предварительного просмотра и редактирования по таким параметрам, как длина, площадь, округлость и угол.
Отображение данных с нескольких детекторов одновременно
Программное обеспечение SEM2000 поддерживает переключение одним щелчком мыши между визуализацией сигналов SE (secondary electrons - детектора вторичных электронов) и BSE (back scattered electrons-детектора обратно рассеянных электронов). Морфология поверхности и информация о природе образцов может отображаться одновременно.
SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом производства ZHONGTAI (Китай).
Разрешение:
в режиме высокого вакуума: 3 нм при 30 кВ (SE); 8 нм при 3 кВ (SE); 4 нм при 30 кВ (BSE)
в режиме низкого вакуума: 3 нм при 30 кВ (SE）
Увеличение:
от 1 до 1 000 000x （на экране）
Ускоряющее напряжение:
от 0,2 кВ до 30 кВ
Источник электронов:
термоэмиссионный вольфрамовый катод
- Ключевое преимущество ХL - увеличенный пробозагрузочник, для образцов больших размеров, нежели в обычных настольных СЭМ
- Информация про образец доступна через 30 секунд после его размещения на предметном столике
- Управление и изменение настроек оборудования осуществляются нажатием соответствующей кнопки
- Применение специальных держателей исключает необходимость дополнительной пробоподготовки
- Изображения предоставляются в двух режимах. Первый стандартный – композиционный. Второй – топографический. Он позволяет оценить рельеф поверхности исследуемого образца
- Для управления производитель предусмотрел поворотную кнопку. Она позволяет быстро настраивать оборудование, получая точные сведения про образец
- Простое переключение на работу в электронном режиме
- Уже через 30 секунд после загрузки образца можно получить изображение с высоким разрешением. Эта модель отличается от модели Pro наличием химанализа (ЭДС детектор)
- Данные, полученные при исследовании образца, можно сохранить на флеш-карту (через USB) или перенести на компьютер. Это облегчает последующую работу с информацией
- После загрузки исследуемого образца его изображение удается получить уже через 30 секунд. Это свидетельствует о высокой скорости работы микроскопа
- Применение специальных держателей. Они предназначены для токонепроводящих образцов. С их помощью удается исключить необходимость в проведении специальной подготовки исследуемого материала
Ключевым элементом металлографических комплексов являются микроскопы высокого разрешения, которые обеспечивают детальное изучение структуры металлических образцов. Такие микроскопы позволяют исследователям рассматривать микроструктуру материалов на уровне отдельных зерен и фаз, что важно для понимания их свойств и поведения при различных условиях эксплуатации.
Современные металлографические комплексы часто оснащены автоматизированными системами анализа, что значительно повышает эффективность и точность измерений. Автоматизация процессов позволяет сократить время, необходимое для проведения исследований, и уменьшить вероятность ошибок, связанных с человеческим фактором. Это особенно важно в промышленных условиях, где требуется быстрое получение и обработка данных.
Интегрированные системы получения изображений играют важную роль в металлографических комплексах. Они позволяют проводить визуальный анализ и документировать результаты исследований. Это облегчает процесс сравнения данных и совместного использования информации между различными отделами и лабораториями.
Некоторые модели металлографических комплексов предоставляют возможность анализа химического состава металлических образцов. Это достигается за счет использования дополнительных методов, таких как рентгеновская спектрометрия и энергодисперсионная спектроскопия. Анализ химического состава позволяет определить содержание различных элементов в образце, что важно для контроля качества материалов и разработки новых сплавов.
Многозадачность является еще одной важной характеристикой металлографических комплексов. Они поддерживают различные методы исследования, такие как световая и электронная микроскопия, рентгеновский анализ и другие. Это позволяет исследователям получать всестороннюю информацию о структуре и свойствах материалов.
