Металлографические микроскопы

Внесен в реестр средств измерений и является измерительным прибором

Комплекс, состоящий из металло-графического инвертированного микроскопа OMOS M-1000 или M-500, цветной цифровой CCD камеры, а также программного обеспечения Axalit-Soft с автоматическими модулями, позволяющими оценить параметры микроструктуры материалов по различным стандартам, в том числе ГОСТ.

Комплекс позволяет получать изображения микроструктуры исследуемых образцов, используя различные методы контрастирования, обрабатывать изображения, сохранять и создавать отчеты с использованием созданных изображений.

Для увеличения точности расчета также имеется модуль для попиксельной сшивки изображения, для того, чтобы увеличить площадь исследования.

Программное обеспечение Axalit-Soft

Модульная структура программного обеспечения AXALIT Soft позволяет проводить анализ изображения для различных секторов рынка:

металлургической, машиностроительной, горно-добывающей, химической, атомной промышленности, микроэлектроники и в различные НИИ программно-аппаратные комплексы исследования микроструктуры изучаемых образцов на соответствие различным стандартам (ГОСТ, ISO, ASTM, DIN, внутренним стандартам предприятия и др.).

Программное обеспечение разделяется:

• Axalit Base. Базовая версия программного комплекса
  
• Axalit Castiron. Модуль контроля образцов из чугуна
  
• Axalit Biomedicine. Модуль по работе с биомедициной
  
• Axalit Steel. Модуль контроля образцов сталей и сплавов
  
• Axalit Microchips. Модуль контроля чипов в микроэлектронике
  

Модульная структура программного обеспечения включает в себя такие методики металлографического анализа для сталей, цветных металлов и сплавов, как:

• Величина зерна в сталях и сплавах ГОСТ 5639, ASTM E112
  
• Неметаллические включения в сталях и сплавах ГОСТ 1778 (методы Ш и К)
  
• ГОСТ 5640, ГОСТ 11878, ГОСТ 1763, ГОСТ 5950
  
• Анализ графита в чугуне ГОСТ 3443
  
• Относительное содержание феррита и перлита ГОСТ 8233
  
• Измерение длин игл мартенсита ГОСТ 8233
  
• Анализ межкристаллитной коррозии
  
• Методы сравнения с эталонами стандартов и т.д.\
  

При этом возможно создание уникальной методики анализа по техническому заданию заказчика.

Петрография

Программное обеспечение позволяет проводить автоматизированный анализ горных пород, руды, продуктов обогащения и переработки, цементного клинкера, керна. ПО позволяет делать автоматические количественные измерения минерального состава, гранулометрического состава, степени раскрытия компонентов руды и рудных концентратов, определять (классифицировать) основные компоненты с выделением перечня классов (кварц, шпат, мусковит, биотит, обломки пород, карбонатный цемент и т. д.).

Микроэлетроника

Применяется для контроля и метрологии полупроводниковых пластин, анализа и морфологии поверхности, позволяет проводить геометрические измерения, создавать панорамные изображение с повышенной глубиной фокуса, нанесение аннотаций.

Биомедицина

Программное обеспечение позволяет автоматизировать гистологические, цитологические, дерматовенерологические исследования.

Модульная структура программного обеспечения AXALIT Soft позволяет позволяет проводить анализ изображения для разлиных секторов рынка: металлургической, машиностроительной, горно-добывающей, химической, атомной промышленности, микроэлектроники и в различные НИИ программно-аппаратные комплексы исследования микроструктуры изучаемых образцов на соответствие различным стандартам (ГОСТ, ISO, ASTM, DIN, внутренним стандартам предприятия и др.)  

Программное обеспечение разделяется:

Axalit Base - Базовая версия программного комплекса

Axalit Castiron - Модуль контроля образцов из чугуна

Axalit Biomedicine - Модуль по работе с биомедициной

Axalit Steel - Модуль контроля образцов сталей и сплавов

Axalit Microchips - Модуль контроля чипов в микроэлектронике

Модульная структура программного обеспечения включает в себя такие методики металлографического анализа для сталей, цветных металлов и сплавов, как:

• Величина зерна в сталях и сплавах ГОСТ 5639, ASTM E112;
  
• Неметаллические включения в сталях и сплавах ГОСТ 1778 (методы Ш и К);
  
• Анализ графита в чугуне ГОСТ 3443;
  
• Относительное содержание феррита и перлита ГОСТ 8233;
  
• Измерение длин игл мартенсита ГОСТ 8233;
  
• Анализ межкристаллитной коррозии;
  
• Методы сравнения с эталонами стандартов и т.д.
  

При этом возможно создание уникальной методики анализа по техническому заданию заказчика.

Зондовый микроскоп сканирует поверхность образца кантилевером, за счет чего возможно получение трехмерного изображения поверхности с высоким разрешением. Нанометровые участки твердых образцов и пленок можно наблюдать как на воздухе, так и в жидкости. Кроме того, с помощью кантилевера возможно исследование электрических и иных свойств, а также построение изображений слоистых структур и определение твердости. Поэтому можно сказать, что область применения микроскопа SPM-9700, как основного инструмента для нанотехнологий, чрезвычайно широка.

Объекты исследования (возможен анализ без пробоподготовки):
 

- металлы
 

- полупроводники
 

- керамика
 

- макромолекулы
 

- биологические объекты

SEM2000 — это базовый и универсальный аналитический сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом.

Понятный и простой интерфейс
Функции просты и удобны в эксплуатации. Даже новички могут быстро начать работу после непродолжительного обучения.

Расширенные функции автоматизации
Автоматическая контрастность, яркость, автофокус и автоматическая дисперсия изображения настраиваются одним щелчком мыши.

Расширенные функции измерения
Функции управления изображениями, предварительного просмотра и редактирования по таким параметрам, как длина, площадь, округлость и угол.

Отображение данных с нескольких детекторов одновременно

Программное обеспечение SEM2000 поддерживает переключение одним щелчком мыши между визуализацией сигналов SE (secondary electrons - детектора вторичных электронов) и BSE (back scattered electrons-детектора обратно рассеянных электронов). Морфология поверхности и информация о природе образцов может отображаться одновременно.

SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом производства ZHONGTAI  (Китай).

Разрешение:
в режиме высокого вакуума: 3 нм при 30 кВ (SE); 8 нм при 3 кВ (SE); 4 нм при 30 кВ (BSE)

в режиме низкого вакуума: 3 нм при 30 кВ (SE）

Увеличение:
от 1 до 1 000 000x （на экране）

Ускоряющее напряжение:
от 0,2 кВ  до 30 кВ

Источник электронов:
термоэмиссионный вольфрамовый катод